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东莞市天测光学设备有限公司

公司专业从事美国QVI产品、法国Keron 关节臂三坐标测量仪、等品牌测量仪器的销售、...

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Pinnacle 250好产出、好尺寸测量系统
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非某凡的精度和生产率，优某异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中某低的购置成本。其独某 		2024-11-13
1000/2000/3000自动化关键尺寸测量系统
■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm 		2024-11-13
VIEW MicroLine 300桌上型半自动CD测量系统
MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。主要技术参数：测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25视场 		2024-11-13
VIEW Benchmark300 影像测量仪
XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置 		2024-11-13
Summit 450/625/800影像测量仪
Summit450/625/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.04L/1000)um (E2=(1.55L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.85L/1000)um ( 		2024-11-13
VIEW BenchMark 250影像测量仪
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.86L/1000)微米(E2=(1.06L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.05L/1000)微米(E1 		2024-11-13
VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.55L/1000)微米Z精度:E1=(2.08L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制 		2024-11-13
VIEW Pinnacle Plus好精度的尺寸测量系统
PinnaclePlus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.好的线性马达控 		2024-11-13
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